在键盘的精细制造流程中,往往面临字符区域出现错印、少印、漏印及键帽位置错乱等复杂的质量挑战。生产过程中,多种型号的键帽会混合进行生产,其中不乏一些较为罕见的型号,这进一步加剧了缺陷产品辨识与收集的难度。因此,对缺陷品的精准检测成为了一项极具挑战性的任务。

在键盘的精细制造流程中,往往面临字符区域出现错印、少印、漏印及键帽位置错乱等复杂的质量挑战。生产过程中,多种型号的键帽会混合进行生产,其中不乏一些较为罕见的型号,这进一步加剧了缺陷产品辨识与收集的难度。因此,对缺陷品的精准检测成为了一项极具挑战性的任务。